2016 年 3 月，飛納電鏡與浙江省電鏡與微結(jié)構(gòu)專業(yè)委員會專家開展了關(guān)于飛納臺式掃描電鏡產(chǎn)品介紹及其應用的學術(shù)交流會，通過本次交流，使得各位專家對飛納電鏡有了更深一步的認識，同時，對飛納電鏡的應用拓展也提出了許多專業(yè)寶貴的建議。在交流會上，還展出了飛納電鏡產(chǎn)品：飛納電鏡能譜一體機Phenom ProX。會議中除了內(nèi)容豐富的技術(shù)演講之外，還舉行了形式多樣的技術(shù)交流活動，會議現(xiàn)場氣氛熱烈。
本次學術(shù)交流會有幸邀請到了浙江省分析測試協(xié)會會長莫衛(wèi)民老師，浙江省電鏡與微結(jié)構(gòu)專業(yè)委員會李吉學老師，浙江省電鏡與微結(jié)構(gòu)專業(yè)委員會張孝彬等專家。飛納電鏡基于 CeB6 燈絲高質(zhì)量的測試效果，15 秒抽真空，防震設(shè)計，可放置在任意樓層，對不導電樣品無需噴金直接觀測，及操作維護簡便，得到了與會專家的一致認可。
飛納臺式掃描電鏡大樣品室版Phenom XL
飛納電鏡為滿足車輛，采礦，鋼鐵，文博考古等行業(yè)大樣品無損測試的需求，于 2015 年發(fā)布了旗下大倉體臺式掃描電鏡——飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL，其zui大樣品尺寸可達 100mm x 100mm x 65mm，可滿足各類大樣品的分析。同時 Phenom XL 繼承了飛納電鏡一貫的*優(yōu)勢，高亮度、長壽命、低色差的 CeB6 燈絲，防震設(shè)計，快速抽真空，光學電子兩級導航，配合全自動馬達樣品臺，操作簡便等，突破了臺式電鏡樣品倉空間的限制，使得大樣品倉需求的客戶有了更適合的臺式掃描電鏡選擇。
飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL
飛納臺式掃描電鏡能譜一體機Phenom ProX
飛納臺式掃描電鏡能譜一體機 Phenom ProX 是飛納電鏡系列中zui的機型之一，開創(chuàng)了臺式電鏡能譜一體化設(shè)計。經(jīng)典的 15 秒抽真空源于樣品杯及真空分級技術(shù)，Phenom ProX 同時還兼具了飛納電鏡的全自動馬達樣品臺，及光學電子兩級導航系統(tǒng)等特點。飛納*采用的高亮度 CeB6 燈絲，對不導電材料可無需噴金處理直接觀測，針對不同形態(tài)樣品有拓展的金相樣品杯，溫度控制樣品杯，降低荷電效應樣品杯等各類附件選擇，能滿足不同形態(tài)樣品的測試需求。
飛納臺式掃描電鏡能譜一體機 Phenom ProX
飛納臺式整合光電關(guān)聯(lián)顯微鏡德飛 Delphi CLEM
飛納臺式整合光電關(guān)聯(lián)顯微鏡德飛 Delphi CLEM 是荷蘭掃描電鏡制造商 Phenom-World 和荷蘭熒光顯微鏡制造商 Delmic ，于 2015 年聯(lián)合推出的，將熒光顯微鏡和臺式掃描電鏡高度整合在一起的設(shè)備。德飛 Delphi 采用光電關(guān)聯(lián)顯微技術(shù)（CLEM），熒光定位樣品中感興趣區(qū)域，掃描電鏡接力高倍觀察。通過在熒光圖像中疊加電鏡圖像，在一張圖像里可同時獲得樣品功能物質(zhì)分布信息和高分辨結(jié)構(gòu)信息。電鏡不能感知熒光信號，光電關(guān)聯(lián)顯微技術(shù)的難點是在電鏡里找回熒光所確定的感興趣區(qū)域，德飛使用圖像無縫切換技術(shù)，兩種光路對同一位置點直接成像，*解決了這個難題。德飛 Delphi 的電子束自動校準技術(shù)，無需人工干預就能得到精度高達 50nm 的熒光和電子疊加照片，既節(jié)約了時間，又確保了疊加圖像的可信度。德飛面向廣大生物工作者，提供可信，，簡便的生物圖像解決方案，是連接熒光顯微鏡和掃描電鏡的橋梁。
飛納臺式整合光電關(guān)聯(lián)顯微鏡德飛 Delphi CLEM
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