Phenom Pro 是飛納（Phenom）第七代飛納臺式掃描電鏡高分辨率專業(yè)版，采用全新一代 高亮度 CeB? 燈絲 壽命3000h與優(yōu)化的電子光學系統(tǒng)，實現(xiàn) 優(yōu)于 6 nm 分辨率，放大 350,000×， 輕松完成納米級與亞微米級材料的微觀形貌觀察。
相比上一代產(chǎn)品，分辨率提升約 20%，新增 實時 BSE/SE 混合圖像（Mix） 功能，為科研與工業(yè)檢測帶來更高效率與更精確的微觀分析體驗。
采用高亮度 CeB? 晶體燈絲，壽命約 3000 h
平均 5 年更換一次燈絲，穩(wěn)定可靠
低電壓成像表現(xiàn)更佳，適用于電子束敏感樣品
全新聚焦系統(tǒng) + 高亮度電子源
分辨率達到桌面掃描電鏡lingx水準
樣品裝載到開始觀察 小于 15 秒
適用于高校實驗室、科研院所、企業(yè)質(zhì)檢產(chǎn)線
內(nèi)置低真空運行模式
適用于高分子、粉末、生物樣品等不導電材料
自動找焦、自動亮度/對比度調(diào)整
無電鏡經(jīng)驗的用戶也能快速獲得高質(zhì)量圖像
支持后期擴展 EDS
同時完成形貌 + 元素成分分析
上海 / 北京 / 廣州 / 成都四大測試中心 & 售后中心
覆蓋全國高校、研究所、企業(yè)實驗室
國內(nèi)用戶數(shù)量接近 2000 家
光學顯微鏡：27–160×
電子顯微鏡：350,000×
成像模式：明場 / 暗場
導航相機：高分辨率 CMOS
燈絲：高亮度 CeB?，壽命約 3000 h
加速電壓：
基本：2 / 5 / 10 / 15 / 20 kV
高級：4.8–20.5 kV 連續(xù)可調(diào)
分辨率：優(yōu)于 6 nm @10 kV
高靈敏度四分割 BSE（成分模式/形貌模式）
二次電子探測器（SED）可選
支持 Mix 混合圖像功能
抽真空時間：< 15 s
成像時間：< 30 s
格式：JPEG / TIFF / PNG
圖像像素：960×600 至 7680×4800
全自動電腦控制馬達樣品臺
專業(yè)防震設計，無需專用機房
可放置在普通實驗室、辦公室、企業(yè) QC 中心
新能源材料（電池正極/負極、固態(tài)電解質(zhì)）
金屬材料與粉末冶金
半導體封裝與失效分析
高分子與復合材料研究
生命科學、生物材料、植物學（無需噴金）
陶瓷、納米材料、MOFs、催化劑研究
企業(yè)產(chǎn)線 QC/QA 快速檢測
全國四大中心：上海 / 北京 / 廣州 / 成都
上門安裝、調(diào)試與系統(tǒng)培訓
Phenom University（飛納學校）：從 SEM 基礎到 Level 5 應用工程師
豐富的自動分析軟件：顆粒分析、纖維分析、自動尺寸測量等
多種樣品杯選件支持不同材料類型
飛納在中國市場已服務近 2000 家用戶，覆蓋高校、科研機構(gòu)、制造業(yè)與質(zhì)檢單位。
傳真：
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